霍尔测试系统
当今有许多新型的半导体和电子材料正在被开发并应用，这些材料包括光电材料（太阳能电池）、热电材料、新型的显示技术、有机材料和高功率器件。这些材料的电学特性越来越难测量。事实上，目前直流磁场的电子输运测量系统不能测量其中的许多材料，原因在于这些材料的低迁移率电子特性及一些高功率器件需要用在高温条件下表征其特性。 因此，这些材料正期待着一种新的测试方法来表征。
这种新兴的材料有低于1cm2/Vs的迁移率，挑战在于怎么从它们产生的背景噪音中提取逐渐减小的霍尔电压。奇旭HMS霍尔测试系统能够测量的迁移率低至0.01 cm2/Vs，这在科研生产力方面是一项很有意义的突破，使客户可以轻而易举的测量低迁移率材料。
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