3He·INSERT
300 mK 物性分析系统·制冷插杆
配合1.6 K低温磁体系统，利用“One-shot”制冷方式，真正实现300 mK下覆盖多种物性分析功能（电学、比热、磁性等）的综合物性测试系统。
配合1.6 K低温磁体系统，利用“One-shot”制冷方式，真正实现300 mK下覆盖多种物性分析功能（电学、比热、磁性等）的综合物性测试系统。
< 300 mK：最低温度 70+ Hours：最低温保持时间 ±1.2 mK：温度波动
∅30/ ∅50：插杆外径尺寸 360°：测量模块可旋转 40 GHz：高频线缆定制
mK级，超出色的温度稳定性
搭配Kelvinion系列温控仪
∅28 mm / ∅49 mm完全兼容主流样品腔尺寸
实物·外径尺寸
不同的外径尺寸，随时选择
技术参数
样品360°旋转、自由探索物性和磁场、角度关系
物性测量·基础框架
300 mK, 可选测试模块
物性测量·功能模块
